半导体器件可靠性、失效案例分析与检测技术进展 - - 实验与分析 -

半导体器件可靠性、失效案例分析与检测技术进展

半导体器件可靠性；半导体器件失效案例分析；半导体检测技术进展。

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课程介绍讲师简介

1. 半导体器件可靠性

1.1 可靠性基础

1.2 半导体器件应用可靠性

1.3 半导体器件质量等级

1.4 半导体器件加速寿命试验

1.5 半导体器件可靠性保证

2. 半导体器件失效案例分析

2.1 自身缺陷

2.2 装配工艺不当

2.3 静电放电损伤

2.4 过电应力

2.5 腔体内部多余物

3. 半导体检测技术进展

3.1 半导体材料检测技术

3.2 电路(器件)检测技术

博士，高级工程师，2013年毕业于中国科学院大学微电子学与固体电子学专业，现为国家半导体器件质量监督检验中心(中国电科十三所检测中心)副主任，主要从事电子元器件筛选、考核、应用验证和失效分析等质量与可靠性研究工作。

地址：北京市西城区百万庄大街22号院2号楼3层A区
电话：010-63326090
邮编：100037

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